23 Mar 18 20:32, Eugene Grosbein послал(а) письмо к Michael Dukelsky:
MD>> Что за ерунда? Hа smart вообще смотреть не надо?
EG> Hа S.M.A.R.T. смотреть можно, но нужно уметь его интерпретировать.
EG> А в данном случае ты смотришь на вывод smartctl, который показывает EG> сырые (RAW) значения для тех атрибутов, которые не умеет нормализовать EG> перед выводом, и 175-й атрибут как раз из таких.
EG> According to the Intel Solid-State Drive DC S3500 Series EG> Specifications, in page 22, the SMART counter 175 (Hexadecimal AF) EG> presents the test results for Power-Loss Protection Failure. It has a EG> high number due to the nature of the test and the information EG> contained in the RAW value:
EG> Bytes 0-1: Last test result as microseconds to discharge cap. EG> Bytes 2-3: Minutes since last test. EG> Bytes 4-5: Lifetime number of tests.
EG> Normalized value: set to 1 on test failure or 11 if the capacitor EG> has been tested in an excessive temperature condition, otherwise 100.
EG> In the output you provided, it seems that the Normalized Value is EG> "100", which indicates that the drive is "OK".
EG> Последнее предложение тебя тоже касается: в столбце VALUE у тебя тоже EG> 100, то есть норма.
Спасибо, я понял, что на интерпретацию smartctl смотреть не нужно, потому что "pre-fail" - это "ОК", а "old_age" это на самом деле "brand new". Буду искать документацию по конкретному накопителю.
Желаю успехов, Eugene! За сим откланиваюсь, Michael.
